Activeer hoog contrast Ga naar hoofdcontent
Home van TU Delft
  • Studeren
    • Bacheloropleidingen
    • Minoren en keuzevakken
    • Masteropleidingen
    • TU Delft Lerarenopleiding
    • Uitwisselingsstudenten
  • Onderzoek
    • Onderzoeksgebieden
    • Verhalen van wetenschappers
    • Promoveren
  • Zakelijk
    • Afgestudeerde of stagiair nodig?
    • Contractonderzoek
    • Faciliteiten
    • Cursussen & opleidingen
  • Actueel
    • Agenda
    • Laatste nieuws
    • Persinformatie
  • Over de faculteit
    • Decaan
    • Visie, feiten en cijfers
    • Hoogleraren
    • Instituten & Onderzoeksscholen
    • Afdelingen
    • Prijzen
    • Contact en bereikbaarheid
    • Verenigingen
    • Vacatures
    • Vacature Communicatie TNW
  • Studeren Menu openen
    • Bacheloropleidingen
    • Minoren en keuzevakken
    • Masteropleidingen
    • TU Delft Lerarenopleiding
    • Uitwisselingsstudenten
  • Onderzoek Menu openen
    • Onderzoeksgebieden
    • Verhalen van wetenschappers
    • Promoveren
  • Zakelijk Menu openen
    • Afgestudeerde of stagiair nodig?
    • Contractonderzoek
    • Faciliteiten
    • Cursussen & opleidingen
  • Actueel Menu sluiten
    • Agenda
    • Laatste nieuws
    • Persinformatie
  • Over de faculteit Menu openen
    • Decaan
    • Visie, feiten en cijfers
    • Hoogleraren
    • Instituten & Onderzoeksscholen
    • Afdelingen
    • Prijzen
    • Contact en bereikbaarheid
    • Verenigingen
    • Vacatures
    • Vacature Communicatie TNW
    • twitter
    • linkedin
    • instagram
    • facebook
English
  • Activeer hoog contrast
  • Technische Natuurwetenschappen
  • Over de faculteit
  • Afdelingen
  • Quantum Nanoscience
  • Kavli Nanolab Delft
  • Equipment
  • Inspection
  • Optical Microscopes
  • Lithography
  • Dry Etching
  • Inspection
    • Bruker FastScan AFM
    • Bruker Dektak XT
    • Titan aberration-corrected TEM
    • FEI NovaNanoSEM
    • Hitachi S4800
    • Jeol JEM-1400 plus TEM
    • Optical Microscopes
    • Raman Micrsocope
    • Spotific Particle Counter
    • Probe Station
    • Woollam M-2000
    • Flexus Stress Meter
    • Lucas Labs Pro4
    • FEI FIB/SEM Helios G4 CX
    • Bruker XRD
    • Lift-off microscope
    • Hitachi Regulus SEM
    • Bruker WLI
    • FR-pOrtable Reflectometer
  • Deposition
  • Miscellaneous
  • Process Recipes

Optical Microscopes

Olympus Microscopes
Various options

Leica INM20
 

Leitz 2, SWIR transmission microscope
Alignment, transmission measurements

Keyence VHX-600
Digital microscope

Deel deze pagina:

  • Facebook
  • Linkedin
  • Twitter
  • Email
  • WhatsApp
Deel deze pagina

Technische Natuurwetenschappen

Quantum Nanoscience

Gebouwnummer 22 
Lorentzweg 1
2628 CJ Delft
T: +31 (0)15 27 89806

Routebeschrijving
Plattegrond en gebouwen

Home van TU Delft
Activeer hoog contrast
  • Studeren
    • Bacheloropleidingen
    • Minoren en keuzevakken
    • Masteropleidingen
    • TU Delft Lerarenopleiding
    • Uitwisselingsstudenten
  • Onderzoek
    • Onderzoeksgebieden
    • Verhalen van wetenschappers
    • Promoveren
  • Zakelijk
    • Afgestudeerde of stagiair nodig?
    • Contractonderzoek
    • Faciliteiten
    • Cursussen & opleidingen
  • Actueel
    • Agenda
    • Laatste nieuws
    • Persinformatie
  • Over de faculteit
    • Decaan
    • Visie, feiten en cijfers
    • Hoogleraren
    • Instituten & Onderzoeksscholen
    • Afdelingen
    • Prijzen
    • Contact en bereikbaarheid
    • Verenigingen
    • Vacatures
    • Vacature Communicatie TNW